东方晶源自主研发的关键尺寸量测设备CD-SEM成功斩获第七届IC创新奖——成果产业化奖。

东方晶源亮相SEMICON China 2024 以创新引领良率管理发展与变革

第49届SPIE Advanced Lithography + Patterning会议在美国加州圣何塞拉开帷幕。

东方晶源荣获IC风云榜“年度知识产权创新奖”，展现出在集成电路良率管理领域的技术实力、竞争优势及行业影响力。

第29届中国集成电路设计业2023年会暨广州集成电路产业创新发展高峰论坛（ICCAD）在广州成功举办。作为国内集成电路设计业的顶级盛会，本届ICCAD吸引了众多国内外头部EDA企业参会。东方晶源受邀亮相本次大会。

第七届国际先进光刻技术研讨会在浙江丽水盛大开幕，作为国内计算光刻及电子束量测检测领域的先行者、领导者、探索者，东方晶源受邀参会。